ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଦୁଇଟି-ପାତ ପରୀକ୍ଷା

Two-slit diffraction pattern by a plane wave

ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଦୁଇ ପାତ ବିଶିଷ୍ଟ ପରୀକ୍ଷା (Young's double-slit interferometer) ବା ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଇଣ୍ଟରଫେରେନ୍ସ ପରୀକ୍ଷା (Young's interference experiment), ପ୍ରକୃତରେ ଆଧୁନିକ ଦ୍ୱି-ପାତ ବିଶିଷ୍ଟ ପରୀକ୍ଷାର ମୂଳ ସ୍ୱରୂପ ଅଟେ ଓ ଏହା ଉନ୍ନବିଂଶ ଶତାବ୍ଦୀର ପ୍ରଥମାର୍ଦ୍ଧରେ ଥୋମାସ ୟଙ୍ଗଙ୍କଦ୍ୱାରା ପରୀକ୍ଷିତ ହୋଇଥିଲା । ଏହି ପରୀକ୍ଷା 'ଆଲୋକର ତରଙ୍ଗାୟିତ ଗତି ତତ୍ତ୍ୱ' (wave theory of light) ସର୍ବଜନାଦୃତ କରିବାରେ ବେଶ ସହାୟକ ହୋଇଥିଲା ।^[୧]

ନିଜେ ୟଙ୍ଗ ମତାନୁସାରେ ଏହା ତାଙ୍କର ସବୁଠାରୁ ବଡ଼ ଉପଲବ୍ଧି ଥିଲା ।

ୟଙ୍ଗଙ୍କ ତରଙ୍ଗ ତତ୍ତ୍ୱ ପ୍ରତି ଅବଦାନ

ଆଲୋକର ତରଙ୍ଗାୟିତ ଗତିର ଅଦୃତି

ଆହୁରି ଦେଖନ୍ତୁ

ଆଧାର

↑ Heavens, O. S.; Ditchburn, R. W. (1991). Insight into Optics. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-92769-3.
↑ Rothman, T. (2003). Everything's Relative and Other Fables in Science and Technology. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-20257-8.

[Insight_into_Optics-1] Heavens, O. S.; Ditchburn, R. W. (1991). Insight into Optics. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-92769-3.

[2] Rothman, T. (2003). Everything's Relative and Other Fables in Science and Technology. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-20257-8.

[୧]

[୨]