ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଦୁଇଟି-ପାତ ପରୀକ୍ଷା

ଉଇକିପିଡ଼ିଆ ରୁ
Two-slit diffraction pattern by a plane wave

ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଦୁଇ ପାତ ବିଶିଷ୍ଟ ପରୀକ୍ଷା (Young's double-slit interferometer) ବା ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଇଣ୍ଟରଫେରେନ୍ସ ପରୀକ୍ଷା (Young's interference experiment), ପ୍ରକୃତରେ ଆଧୁନିକ ଦ୍ଵି-ପାତ ବିଶିଷ୍ଟ ପରୀକ୍ଷାର ମୂଳ ସ୍ୱରୂପ ଅଟେ ଓ ଏହା ଉନ୍ନବିଂଶ ଶତାବ୍ଦୀର ପ୍ରଥମାର୍ଦ୍ଧରେ ଥୋମାସ ୟଙ୍ଗଙ୍କ ଦ୍ଵାରା ପରୀକ୍ଷିତ ହୋଇଥିଲା । ଏହି ପରୀକ୍ଷା 'ଆଲୋକର ତରଙ୍ଗାୟିତ ଗତି ତତ୍ତ୍ଵ' (wave theory of light) ସର୍ବଜନାଦୃତ କରିବାରେ ବେଶ ସହାୟକ ହୋଇଥିଲା ।[୧]

ନିଜେ ୟଙ୍ଗ ମତାନୁସାରେ ଏହା ତାଙ୍କର ସବୁଠାରୁ ବଡ ଉପଲବ୍ଧି ଥିଲା ।

ୟଙ୍ଗଙ୍କ ତରଙ୍ଗ ତତ୍ତ୍ଵ ପ୍ରତି ଅବଦାନ[ସମ୍ପାଦନା]

Thomas Young's sketch of two-slit interference based on observations of water waves.[୨]
Ebohr1 IP.svg

ଆଲୋକର ତରଙ୍ଗାୟିତ ଗତିର ଅଦୃତି[ସମ୍ପାଦନା]

ଆହୁରି ଦେଖନ୍ତୁ[ସମ୍ପାଦନା]

ଆଧାର[ସମ୍ପାଦନା]

  1. Heavens, O. S.; Ditchburn, R. W. (1991). Insight into Optics. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-92769-3. 
  2. Rothman, T. (2003). Everything's Relative and Other Fables in Science and Technology. John Wiley & Sons. ISBN 978-0-471-20257-8.